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聯系我們X-RAY鍍層測厚儀性能*
點擊次數：1281 更新時間：2016-05-22
X-RAY鍍層測厚儀特色：
非破壞，非接觸式檢測分析，快速。
可測量高達六層的鍍層 (五層厚度 + 底材 ) 并可同時分析多種元素。
相容Microsoft微軟作業系統之測量軟體，操作方便，直接可用Office軟體編輯報告 。
全系列*設計樣品與光徑自動對準系統。
標準配備: 溶液分析軟體 ，可以分析電鍍液成份與含量。
準直器口徑多種選擇，可根據樣品大小來選擇準值器的口徑。
移動方式：全系列全自動載臺電動控制，減少人為視差 。
*2D與3D或任意位置表面量測分析。
雷射對焦，配合CCD攝取影像使用point and shot功能。
標準ROI軟體 搭配內建多種專業報告格式，亦可將數據、圖形、統計等作成完整報告 。
光學2 0X 影像放大功能，更能對位。
X-RAY鍍層測厚儀提供金屬鍍層厚度的測量，同時可對電鍍液進行分析，不單性能*,而且價錢*。
同比其他牌子相同配置的機器，XRF2000為您大大節省成本。只需數秒鐘,便能非破壞性地得到準確的測量結果。
甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任。全自動XYZ樣品臺，鐳射自動對焦系統，十字線自動調整。超大/開放式的樣品臺，可測量較大的產品。是線路板、五金電鍍、首飾、端子等行業的。可測量各類金屬層、合金層厚度等。
