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聯系我們XRF2000鍍層測厚儀規格
點擊次數：2466 更新時間：2013-06-23
韓國XRF-2000L鍍層測厚儀規格及技術指標
韓國MICRO PIONEER公司 XRF-2000L 型X-射線測厚儀
生產商 : MICRO PIONEER原產地 : 韓國
儀器功能 : 測量電鍍層厚度（單鍍層 雙鍍層 合金鍍層 電鍍液分析 元素定性分析）
系統結構 :
主機箱,專用分析電腦,,彩色打印機
主機尺寸
610 x 670 x 490 mm
主機箱重量 : 75 公斤
配件重量 : 約 35 公斤
以電腦鼠標移動方式,驅動 XYZ 三軸移動,步進馬達
XYZ 樣片臺移動尺寸
200 x 150 x 30 mm
準直器（,（0.1,0.2,0.3,0.4 , 0.05 x 0.3mm）
軟件包括 視窗軟件,
系統軟件包括,測量,統計,
系統功能
可測單層,雙層或多層電鍍層厚度
XRF2000L鍍層測厚儀
全自動臺面
自動雷射對焦
多點自動測量 （方便操作人員準確快捷檢測樣品）
測量樣品高度不超過4cm（有10cm可供選擇）
鍍層厚度測試范圍：0.04－35um
可測試單層，雙層，多層及合金鍍層厚度
測量時間：10－30秒
精度控制：
*層：±5%以內
第二層：±8%以內
第三層：±12%以內
系統功能
雷射對焦,全自動XYZ樣片臺,自動調整檔案功能,電鍍藥液測量.元素配對.
技術指標
X-射線管 : W（鎢）靶 ,
高壓電源數值 : 50 KV
功率 : 50 W
X-射線管電流 : 1 mA
可測元素範圍 : 由元子序號 22 至 83
