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韓國MICRO PIONEER X射線鍍層測(cè)厚儀測(cè)量樣品高度達(dá)到20cm

韓國先鋒XRF-2000X射線鍍層測(cè)厚儀開發(fā)出一款產(chǎn)品型號(hào)加高H型
機(jī)箱容納樣品長寬均為55cm,高度在原基礎(chǔ)上容納電鍍工件10CM可加高至20CM
此款型號(hào)可滿足客戶對(duì)大型樣品檢測(cè)要求，對(duì)測(cè)量五金工件，電氣類工件
及衛(wèi)浴電鍍工藝能準(zhǔn)確測(cè)量出電鍍層厚度。

韓國XRF-2000X射線鍍金層測(cè)厚儀

檢測(cè)電鍍層厚度，可檢測(cè)鍍金，鍍銀，鍍鎳，鍍錫，鍍鋅，鍍鉻，鍍鈀等
可測(cè)量單鍍層，雙鍍層，多鍍層及合金鍍層

單鍍層：如銅上鍍鎳，銅上鍍銀，銅上鍍錫，鐵上鍍鎳等，不限底材
雙鍍層：銅上鍍鎳鍍金，鐵上鍍銅鍍鎳等
多鍍層：鐵上鍍銅鍍鎳鍍銀，銅上鍍鎳鍍鈀鍍金等
合金鍍層：銅上鍍鋅鎳等

XRF-2000X射線鍍層測(cè)厚儀

儀器配置
 
全自動(dòng)臺(tái)面

自動(dòng)雷射對(duì)焦
多點(diǎn)自動(dòng)測(cè)量 (方便操作人員準(zhǔn)確快捷檢測(cè)樣品）
測(cè)量樣品高度不超過3cm(亦有10CM可選)
鍍層厚度測(cè)試范圍：0.04－35um
可測(cè)試單層，雙層，多層及合金鍍層厚度
每層鍍層都可分開顯示各自厚度.
測(cè)量時(shí)間：15秒
 
精度控制：
      *層：±5%以內(nèi)
      第二層：±8%以內(nèi)
      第三層：±12%以內(nèi)

X射線鍍層測(cè)厚儀/X射線金屬鍍層測(cè)厚儀(韓國先鋒XRF-2000)
 
韓國先鋒XRF2000鍍層測(cè)厚儀
 
XRF-2000鍍層測(cè)厚儀共分三種型號(hào)

不同型號(hào)各種功能一樣

機(jī)箱容納樣品大小有以下不同要求
XRF-2000鍍層測(cè)厚儀型號(hào)介紹
XRF-2000鍍層測(cè)厚儀H型:測(cè)量樣品高度不超過10cm
XRF-2000電鍍測(cè)厚儀L型:測(cè)量樣品高度不超過3cm
以上兩款型長容納樣品長寬為55cm

加高型容納樣品至20CM內(nèi)

XRF-2000電鍍膜厚儀PCB型:測(cè)量樣品高度不超3cm(開放式設(shè)計(jì),長寬不限)